X-선 광전자 분광기(XPS)
NTIS 등록번호 | NFEC-2011-01-131271 | 고정자산 관리번호 |
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한글장비명 | X-선 광전자 분광기(XPS) | 모델명 | Thermo/K-Alpha ESCA System |
영문장비명 | X-ray Photoelectron Spectrometer | 취득방법 | 구매 |
표준분류체계 | |||
연구시설 장비구분 |
주장비 | 주장비 | |
장비이용 가능여부 |
이용가능 |
■ 장비 상세 정보 | |||
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장비사진 |
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취득일자 | 2009-05-13 |
내용연수 | 년 | ||
제작사 | Thermo Fisher Scientific | ||
제작국가 | |||
취득금액 | 527,726,890원 | ||
활용범위 | 공동활용허용 가능 | ||
장비용도 | 분석 | ||
장비상태 | 활용 | ||
설치장소 | 익산시 익산대로 460 | ||
기관명 | 차세대방사선산업기술지역혁신센터 | 동/건물명 | 자연과학대학 |
층 수 | B1 | 호실 |
■ 장비 담당자 | |||
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성 명 | 조용균 | 전화번호 | 063-850-7137 |
이메일 | opus5842@naver.com | 휴대폰 |
■ 연구시설·장비 소개 및 이력 | |||
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장비설명 | |||
구성 및 성능 | 주요사양 Powerful Performance - Selectable Area Spectroscopy - Sputter Depth Profiling - Micro-Focused Monochromator - Snapshot Acquisition - High Resolution Chemical State Spectroscopy - Insulator Analysis - Quantitative Chemical Imaging X-ray Source - Anode Material : Al or Mg - Max. Energy : 100W or higher - Spot Size : 30 ~ 400㎛ Ion Gun - Argon Ion Source - Energy : 100eV ~ 3keV - Max. Beam Current : 500nA or larger Analysis Chambe - Ultimate Vacuum : 5x10-9 Mbar or Better - Pumping System : Turbo Pump Scroll Pump |
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사용 예 | 물질의 구성 성분 분석 화학적 결합상태 분석 예) Si SiO2 결함의 원인 규명 (Depth Profile) 응용 분야 : 고체 표면의 화학적인 결합 상태 및 성분의 조성비 확인이 가능. 박막 및 유/무기 재료 등의 결함 분석 태양전지 개발 디스플레이 소자 개발 고분자 복합재료 연구 |
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장비 문의처 | LINC 3.0사업단 공동기기센터 박정민 (063-850-5738) | ||
시료 조건 | 사용료 | 60,000(시료 1개 정성분석), 150,000(시료 1개 정량분석) |